N-SEM/EDS （走査型電子顕微鏡 低真空での観察機能付き）
可能な像：二次電子像，反射電子像(COMPO像, TOPO像）
可能な解析：元素解析，線分析，マッピング
真空モード：高真空モード，低真空モード
解析例と図
X線回折装置(XRD) ：物質の結晶構造を知る装置
測定可能角度：２°〜１４０°
測定温度範囲：室温〜５００℃
操作可能雰囲気：大気，真空，各種ガス
測定可能試料：粉末，バルク（固体），ペーストまま
X線回折装置(FT-IR) ：物質の分子結合を知る装置
測定可能波長：４００〜４０００cm-1
可能な測定法：透過法，ATR法
X線回折装置(TG-DTA) ：物質の反応や，物質中のガスや水の量を知る装置，あるいは物質の熱分解性も見られる。
測定可能温度：室温〜１５００℃
可能な雰囲気：大気，アルゴンガス雰囲気
分光光度計 ：溶液中の濃度を測定する装置
測定セルサイズ：0.5ml， 5ml， 20ml
マイクロビッカース硬さ試験器
ミツトヨ製 HM220
マイクロビッカース硬さ試験器
ミツトヨ製 HM220